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硅芯管冷弯半径试验装置技术指标

发布时间:2018-06-09 22:43:58 来源:欧贝特检测设备 浏览:

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硅芯管冷弯半径试验装置技术指标 技术指标: 使用范围:适用于测定低温下硅芯管的抗曲折性能。能够满足直径在32⑹3mm不同直径的地下通讯管道高密度聚乙烯硅芯塑料管。其他检测装备:温度能控制在⑵0℃±2℃的低温箱。 样 品:取3根1.5米(当外径大于40mm时2m)长的硅芯管作为试样用于产品的曲折性能实验,实验前试样应放置在⑵0℃±2℃温度下保持2h。 判定规则:试样经过曲折实验后,应不出现开裂、裂纹或明显应力发白现象。

技术指标:
使用范围:适用于测定低温下硅芯管的抗曲折性能。能够满足直径在32⑹3mm不同直径的地下通讯管道高密度聚乙烯硅芯塑料管。
其他检测装备:温度能控制在⑵0℃±2℃的低温箱。
样 品:取3根1.5米(当外径大于40mm时2m)长的硅芯管作为试样用于产品的曲折性能实验,实验前试样应放置在⑵0℃±2℃温度下保持2h。
判定规则:试样经过曲折实验后,应不出现开裂、裂纹或明显应力发白现象。

硅芯管冷弯半径试验装置技术指标








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